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當(dāng)今的模擬和功率半導(dǎo)體技術(shù)（包括 GaN 和 SiC）要求進(jìn)行參數(shù)測試，以便限度提高測量性能、支持廣泛的產(chǎn)品組合以及限度降低測試成本。40 多年來，吉時(shí)利已經(jīng)在關(guān)鍵應(yīng)用中解決了這些問題以及其他重要挑戰(zhàn)，這些應(yīng)用包括工藝整合、工藝控制監(jiān)控、生產(chǎn)芯片分類（例如，晶片驗(yàn)收或已知的良好芯片測試），以及可靠性。帶有 KTE 7 軟件的吉時(shí)利 S530 系列參數(shù)測試系統(tǒng)提供高速、靈活的配置，能夠隨著新應(yīng)用的出現(xiàn)和需求變化而不斷發(fā)展。S530 可進(jìn)行高達(dá) 200 V 的測試，而 S530-HV 可以在任何引腳上進(jìn)行高達(dá) 1100 V 的測試，與競爭解決方案相比，吞吐量提高了 50%。KTE 7 的新增功能是促成直接對接探測器和原有探頭卡重新使用的可選系統(tǒng)測試頭，支持汽車標(biāo)準(zhǔn) IATF-16949 要求的系統(tǒng)級 ISO-17025 引腳校準(zhǔn)，以及從原有的 S600 和 S400 系統(tǒng)進(jìn)行遷移的、最順暢的路徑，具有完整的數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)性并提高了速度。540 參數(shù)測試系統(tǒng)是一個(gè)全自動化的 48 引腳參數(shù)測試系統(tǒng)，適用于高達(dá) 3kV 的功率半導(dǎo)體器件和結(jié)構(gòu)的晶片級測試。集成式 S540 已針對包括碳化硅 (SiC) 和氮化鎵 (G......

吉時(shí)利自動化檢定套件 (ACS) 是靈活的交互式軟件測試環(huán)境，可用于器件檢定、參數(shù)化測試、可靠性測試，甚至簡單的功能測試。ACS 支持各種吉時(shí)利儀器和系統(tǒng)、硬件配置和測試設(shè)置，從用于 QA 實(shí)驗(yàn)室的一些臺式儀器到集成且基于機(jī)架的自動化測試系統(tǒng)。利用 ACS，用戶可使用自動硬件管理工具配置儀器，并快速執(zhí)行測試，無需具備編程知識。下載免費(fèi)試用版軟件

開發(fā)和使用MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件，需要全面的器件級檢定，如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測量。 Keithley參數(shù)波形記錄儀（代替原晶體管圖示儀）支持所有的設(shè)備類型和測試參數(shù)。Keithley參數(shù)波形記錄提供高功率同步電流電壓曲線測試（IV曲線測試）、電容電壓曲線測試（CV曲線測試）和高功率脈沖IV曲線測量。

半導(dǎo)體器件的高速和低電流要求高質(zhì)量、高性能的 I-V 和 C-V 信號開關(guān)。 我們?yōu)榘雽?dǎo)體研發(fā)和生產(chǎn)測試應(yīng)用提供開關(guān)解決方案，其中主機(jī)可以支持多達(dá) 2,880 個(gè)通道以及專為半導(dǎo)體應(yīng)用而設(shè)計(jì)的一系列矩陣卡。