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簡(jiǎn)要描述:AQ6373E可見(jiàn)光波長(zhǎng)光譜分析器350-1200納米AQ6373E可見(jiàn)波長(zhǎng)光譜分析器橫河測(cè)試與測(cè)量公司的AQ6373E可見(jiàn)波長(zhǎng)光譜分析器提供高速、精確的350到1200納米短波長(zhǎng)分析。
詳細(xì)介紹
品牌 | YOKOGAWA/日本橫河 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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橫河測(cè)試與測(cè)量公司的AQ6373E可見(jiàn)波長(zhǎng)光譜分析器提供高速、精確的350到1200納米短波長(zhǎng)分析。
這款多功能OSA具有三種可供選擇的型號(hào),可滿足各種應(yīng)用的需求,可加速短波長(zhǎng)激光器、無(wú)源器件和LED的開(kāi)發(fā)和制造,以及用于生物醫(yī)學(xué)、材料加工、消費(fèi)品和電信市場(chǎng)的設(shè)備。
適用于短波長(zhǎng)范圍應(yīng)用的三種型號(hào):標(biāo)準(zhǔn)型、高分辨率型、有限型
波長(zhǎng)范圍:350-1200納米(所有型號(hào))
波長(zhǎng)分辨率
標(biāo)準(zhǔn):0.02納米-10納米
高分辨率:0.01 nm-10 nm(從350 nm到600 nm的分辨率為0.01 nm )
限值:0.1 nm-5 nm
波長(zhǎng)精度
標(biāo)準(zhǔn):±0.05 nm(633 nm),±0.2 nm (400 - 1100 nm)
高分辨率:±0.05 nm(633 nm),±0.2 nm (400 - 1100 nm)
限值:±0.05 nm(633 nm),±0.2 nm (400 - 1100 nm)
閉合動(dòng)態(tài)范圍
標(biāo)準(zhǔn)值: 60 分貝(λ 峰值 ±0.5 nm )
分辨率: 60 dB (λ 峰值 ±0.5 nm )
45 dB (λ 峰值 ±0.5 nm )
敏感度
標(biāo)準(zhǔn):-80 dBm(500 - 1000 nm)
高分辨率:-80 dBm(500-1000 nm)
限制:-70 dBm(500 - 1000 nm)
測(cè)量水平范圍
標(biāo)準(zhǔn):100 dB(-80 - +20 dBm)
高分辨率:100 dB(-80 - +20 dBm)
限制:90 dB(-70 - +20 dBm)
最大安全輸入功率:20 dBm(550至1100納米)+10 dBm(400-500至550納米) (總輸入功率)
單模、多模和大芯光纖
內(nèi)置光學(xué)對(duì)準(zhǔn)光源
使用外部參考源進(jìn)行波長(zhǎng)校準(zhǔn)
各種分析功能,包括VIS的顏色分析
高分辨率和高動(dòng)態(tài)范圍
良好的單色儀實(shí)現(xiàn)了高波長(zhǎng)分辨率和高閉合動(dòng)態(tài)范圍。憑借單色儀更銳利的光譜特性,可以清晰地分離近距離的光譜信號(hào)并進(jìn)行精確測(cè)量。
高靈敏度
可以準(zhǔn)確、快速地測(cè)量微弱的光學(xué)信號(hào)。
七種靈敏度設(shè)置*
靈敏度設(shè)置可根據(jù)測(cè)試應(yīng)用和測(cè)量速度要求進(jìn)行選擇。
*xian量型號(hào)除外
高動(dòng)態(tài)模式
可以通過(guò)減少雜散光的影響來(lái)提高動(dòng)態(tài)范圍,雜散光是在輸入為強(qiáng)光信號(hào)時(shí)產(chǎn)生的。
峰值保持和外部觸發(fā)模式
脈沖光信號(hào)的脈沖峰值光譜是可測(cè)量的,常用于電信系統(tǒng)的傳輸回路測(cè)試,也用于激光芯片開(kāi)發(fā)初期的低功耗測(cè)量,以捕捉脈沖信號(hào)的峰值功率。
空閑空間輸入
自由空間輸入可在相同的OSA上實(shí)現(xiàn)多模和單模光纖,且輸入連接器處的小插入損耗變化提高了測(cè)量的重復(fù)性。由于沒(méi)有身體接觸,在連接纖維時(shí)沒(méi)有損壞的結(jié)果。該功能支持SM、GI(50/125μm、62.5/125μm)和高達(dá)800μm的大芯光纖。
快速掃描
憑借良好的單色器、更快的電路和降噪技術(shù),AQ6373E即使在測(cè)量來(lái)自DFB-LD信號(hào)的陡峭光譜時(shí),或在測(cè)量來(lái)自寬帶光源的低功率信號(hào)時(shí),也能實(shí)現(xiàn)快速測(cè)量速度。
寬幅掃描,高分辨率
200,001個(gè)數(shù)據(jù)采樣點(diǎn)在一次掃描中擴(kuò)展了測(cè)量范圍,同時(shí)保持高波長(zhǎng)分辨率。這使您的測(cè)量比使用少量采樣點(diǎn)并需要多次部分測(cè)量以覆蓋整個(gè)波長(zhǎng)范圍的傳統(tǒng)系統(tǒng)更容易和更高效。
易于精確維護(hù)
環(huán)境條件變化、振動(dòng)和沖擊對(duì)光學(xué)精密產(chǎn)品(如光譜分析儀)的影響將影響光學(xué)元件,并最終降低光學(xué)性能。使用標(biāo)準(zhǔn)功能,AQ6373E可以在幾分鐘內(nèi)保持其高光學(xué)性能,以實(shí)現(xiàn)快速開(kāi)始測(cè)量。
光學(xué)對(duì)準(zhǔn)
使用內(nèi)置光源自動(dòng)對(duì)齊單色器中的光路,以保持高性能。
波長(zhǎng)校準(zhǔn)
用外部光源自動(dòng)校準(zhǔn)光譜分析儀,確保波長(zhǎng)精度。
內(nèi)置光學(xué)對(duì)準(zhǔn)源
波長(zhǎng)校準(zhǔn)需要外部光源。需要GI 50/125 m光纖以及定期校準(zhǔn)。在某些情況下,光學(xué)對(duì)準(zhǔn)和波長(zhǎng)校準(zhǔn)功能不能校正光學(xué)性能。
縮略圖文件預(yù)覽
從內(nèi)部和外部存儲(chǔ)的數(shù)千個(gè)文件中輕松找到特定文件。
USB端口
四個(gè)USB端口方便使用外部設(shè)備,如鼠標(biāo)、鍵盤(pán)、外部硬盤(pán)和記憶棒。
大屏幕觸摸屏液晶顯示器
響應(yīng)式高分辨率10.4英寸多點(diǎn)觸控電容觸摸屏使設(shè)備操作更加簡(jiǎn)單和直觀。更改測(cè)量條件、執(zhí)行分析和更改光譜視圖,就像在操作平板設(shè)備一樣。在光譜視中,波形視圖可以通過(guò)簡(jiǎn)單的點(diǎn)擊和拖動(dòng)縮放或移動(dòng)。
高級(jí)標(biāo)記
添加標(biāo)記以獲得zhi定頻譜的功率密度和集成功率。
頻譜分析
提供多種數(shù)據(jù)分析功能,涵蓋許多流行的應(yīng)用:
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七條個(gè)人痕跡
用戶可以通過(guò)鼠標(biāo)直接選擇軌跡,通過(guò)同時(shí)顯示多軌跡,并在軌跡之間使用最大/最小保持和計(jì)算(減除)。
內(nèi)置宏編程
創(chuàng)建自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),通過(guò)遠(yuǎn)程接口執(zhí)行自動(dòng)測(cè)量和控制外部設(shè)備。GP-IB和以太網(wǎng)(10/100Base-T)端口可用來(lái)通過(guò)PC進(jìn)行遠(yuǎn)程控制,并傳輸標(biāo)準(zhǔn)的SCPI兼容(ASCII代碼,符合IEEE-488.2)或?qū)S械腁Q6317兼容命令(模擬模式)。LabVIEW®驅(qū)動(dòng)程序也可用。
面向DUT的測(cè)試應(yīng)用程序(APP)
應(yīng)用(APP)模式通過(guò)將AQ6373E OSA轉(zhuǎn)換為專用于被測(cè)設(shè)備(DUT)的機(jī)器,簡(jiǎn)化了測(cè)試過(guò)程。APP模式提供了一個(gè)特定于DUT的用戶界面,它可以從配置設(shè)置導(dǎo)航到測(cè)試結(jié)果輸出,而無(wú)需擔(dān)心其他許多OSA設(shè)置。AQ6370系列包括多個(gè)預(yù)裝的基本應(yīng)用,如WDM、DFB-LD和FP-LD測(cè)試。該應(yīng)用程序也可從橫河測(cè)試與測(cè)量網(wǎng)站下載。
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